Stefan Seith von Benrath 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
+Giancarlo Stocco 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
++++++Massimo Anselmi 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
Pro Pro pror o l f WENGENroth 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
+Antonio Morri 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
+Mimoto 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
+Christiane B 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
+Carlo Capobianchi 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
proIvano Cheli (1) 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
+Renato Orsini 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
++++Luigi Scorsino 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
Straordinaria +pro+Laura Traversa 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
PROMarzia Autore 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
++++++++++++++++++Angéla Vicedomini 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
+++PRO+++Salvo Zannelli 02/02/2008 19:28 Comentario de la votación
mi ripeto :ottimo punto di ripresa
profondità di campo che indicano la conoscenza e la padronanza del "Metodo di Hanchok"
rapporto bipolare fra focale e parallasse espositiva ben gestito