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Polarisationsmikroskopie: Schieferige Textur in Tonschiefer und Phyllit

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Polarisationsmikroskopie: Schieferige Textur in Tonschiefer und Phyllit

Vergleich der schieferigen Textur in Tonschiefer (oben) und Phyllit (unten).
Gesteinsdünnschliff (25 µm Dicke); 50fache Vergrößerung, einfach linear polarisiertes Licht.
Alte "Sammlung von 45 Dünnschliffen zur Erläuterung der Struktur und Textur der Gesteine"; zusammengestellt nach Rosenbusch, bearbeitet von Prof. Dr. A. Osann (1923); Dr. F. Krantz, Rheinisches Mineralien-Kontor, Schliffe Nr. 35 (oben) und 36 (unten).
Fundorte: Tonschiefer - Nuttlar, Westfalen; Phyllit - Glauchau, Sachsen.

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